電気・電子計測関連

パラメトリック・テスト・システム S530シリーズ

パワー半導体測定の性能を最大化、コストを最小化  

KTE 7ベースのS530プラットフォームは、最小限のセットアップとテスト時間でラボ・レベルの測定性能を実現できます。最大1100Vまでの高速で柔軟性の高い構成により、新しいアプリケーションや要件の変化に簡単に対応可能です。

テクトロニクス/ケースレーインスツルメンツ社 製品詳細ページ

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商品コード: S530シリーズ

パラメトリック・テスト・システム S530シリーズ

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製品の特長

•TSP/TSP-Link高速バス技術でタクトの改善と柔軟性を提供
•最新1100V 2470型SMU搭載、スピードアップと微小電流測定レンジを拡大
•NEW SRU(System Reference Unit)はISO17025校正、さらにIATF-16949の要求に応えるピン先でのシステム・レベル校正を実現
•過渡過電圧/過電流保護機能を装備、プローブカード、針、装置への偶発的な損傷を回避

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